De nouvelles recherches ont permis de répertorier les différentes méthodes de détection et de localisation des défaillances observées sur les onduleurs photovoltaïques raccordés au réseau. Le panorama propose également une classification des différents défauts constatés sur les composants et des causes potentielles sous forme de tableau.
Un nouvel algorithme identifie cinq types de défauts dans les systèmes photovoltaïques, tout en détectant le moment où les défauts ont été résolus pour éviter les faux positifs. Il est basé sur le test de différence significative minimale, un ensemble de tests-t individuels qui comparent les moyennes de deux ou plusieurs groupes prédéterminés.
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